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半导体高温老化柜
添加时间:2025.07.05

半导体老化柜(Burn-in Chamber)是用于对半导体器件(如集成电路、芯片、LED等)进行老化测试(Burn-in Test)的专业设备。其核心目的是通过模拟高温、高电压、高负载等严苛条件,加速潜在缺陷的暴露,筛选出早期失效产品,确保器件的可靠性和稳定性。
主要功能与特点
温度控制
高温老化:通常温度范围在室温至150℃以上(部分可达200℃),通过恒温或循环温度变化加速老化。
精准控温:采用PID算法或更先进的温控系统,确保温度均匀性(±1~2℃以内)。
电气负载
提供动态或静态的电信号(电压/电流),模拟实际工作状态。
支持多通道并行测试,可同时对大量器件施加不同负载。
环境模拟
可选湿度控制(如85%RH)、气压调节(用于功率器件老化)。
部分设备支持气体环境控制(如氮气保护)。
自动化与监控
集成数据采集系统(DAQ),实时监测电流、电压、温度等参数。
软件自动记录失效数据,支持统计分析(如Weibull分布)。
安全防护
过流/过压保护、烟雾报警、紧急断电功能。
防静电设计(ESD Protection)。